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Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於混凝土微觀結構觀察，幫助分析孔隙、裂紋和水化產物形貌。 Phenom XL G3 平均成像時間約 40 秒，可對最大 100 x 100 mm 的樣品進行分析，適合較大尺寸樣品或多樣品檢測場景。設備采用 CeB6 燈絲，電子光學放大倍數可達 200,000 X，分辨率優於 8 nm，適用於日常質檢、研發分析、失效分析和樣品測試等應用。

Phenom ProX G7 是飛納推出的台式掃描電鏡能譜一體機，可用於材料成分分析和表麵形貌觀察，幫助判斷樣品微區元素組成。

ParticleX Battery 是飛納推出的自動化分析係統，可用於鋰電生產工藝優化中的金屬異物識別、統計和來源分析。

Phenom XL G3 是飛納推出的大倉室台式掃描電鏡，可用於太陽能電池片形貌觀察，幫助分析電池片表麵、截麵和缺陷形貌。

ParticleX Battery 是飛納推出的全自動鋰電清潔度分析係統，可用於第三方檢測機構開展鋰電清潔度和金屬異物分析。